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產品中文全名：雜訊近場量測掃描平臺
產品英文全名：Platform Noise Scanner
產品型號：PNS Ⅳ
主要功能：主要功能在於測量待測物之雜訊分佈，可應用在 IC EMI 測試、手機面板雜訊
與通信頻帶之干擾測試等，並利用軟體將雜訊分佈以熱區圖形式呈現，方便解讀各區域
之雜訊強度以及載台內各干擾源 WebCam 、 Touch Module) 以及耦合路徑 (LVDS Cable &
Connector 等 )Noise Budget 的制訂。提供雷射介面可以依據待測物上之零件高度上下移
動近離量測。提供 CCD 介面以圖形介面量測待測物雜訊，在實際的產品照片上顯示各測
試點的雜訊准位。可 自動產出測試報告 excel 及熱區圖並對應至 實體待測物 上。
產品規格 :
測試參考圖如下 :
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