產品中文全名：雜訊近場量測掃描平台 產品英文全名：Platform Noise Scanner 產品型號：PNS PNS主要功能：在於測量待測物之噪聲分佈，可應用在IC EMI測試、手機面板噪聲與通信頻帶之干擾測試等，並利用軟件將噪聲分佈以熱區圖形式呈現，方便解讀各區域之噪聲強度以及載台內各干擾源(WebCam、Touch Module)以及耦合路徑(LVDS Cable & Connector等)Noise Budget的製訂。提供雷射接口可以依據待測物上之零件高度上下移動近離量測。提供CCD接口以圖形接口量測待測物噪聲，在實際的產品照片上顯示各測試點的噪聲準位。軟件支持各國際大廠規格。測試數據可存成excel及熱區圖並對應至組件上。量測探棒依照國際大廠的校正手法，量測的結果經修正後為絕對單位(dBm)。 量測基本規格 最大承載待測物重量 ≦60KG 平台置放最大待測物尺寸 300mm(長) X 200mm(寬) X 30mm(高) 其他 可來信(info@trclab.com.tw)需求客製 筆電雜訊   手機雜訊   螢幕雜訊   IC雜訊   連接器雜訊   模組雜訊

系統基本規格 產品型號 PNS-03 系統外觀   特色功能 1. 自動化2D量測(固定距離DUT 1mm)。 2. 高精準區域掃描，移動公差小於1mm。 3. 軟硬件防撞機制，避免探棒因不當操作損毀。 4. 待測物圖片結合噪聲熱區圖，可準確確認噪聲來源。 系統外觀尺寸 650mm(長) X 640mm(寬) X 1100mm(高) 擷取最大影像之掃描範圍 300mm(長) X 200mm(寬) X 30mm(高) 前置放大器 略约60dB 搭配儀器 一般頻譜分析儀（頻率需廣涵：10MHz~6GHz） 供應額定電壓 110/220V

系統基本規格 產品型號 PNS-01 系統外觀   特色功能 1. 自動化2D量測(固定距離DUT 1mm)。 2. 高精準區域掃描，移動公差小於1mm。 3. 軟硬件防撞機制，避免探棒因不當操作損毀。 4. 待測物圖片結合噪聲熱區圖，可準確確認噪聲來源。 系統外觀尺寸 650mm(長) X 640mm(寬) X 1100mm(高) 擷取最大影像之掃描範圍 180mm(長) X 160mm(寬) X 30mm(高) 前置放大器 略约60dB 搭配儀器 一般頻譜分析儀（頻率需廣涵：10MHz~2.5GHz） 供應額定電壓 110/220V

系統搭配 量測探頭 TRC垂直式 (0度或90度旋轉探頭) TRC高感度 (0度高感度量測探頭) TRC水平式 (0度廣範圍量測探頭) 低雜訊放大器 TRC LNA20dB TRC LNA40dB